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We report the observation of the rare charm decay D0→K-π+e+e-, based on 468 fb-1 of e+e- annihilation data collected at or close to the center-of-mass energy of the (4S) resonance with the BABAR detector at the SLAC National Accelerator Laboratory. We find the branching fraction in the invariant mass range 0.675<0.875 GeV/c2 of the electron-positron pair to be B(D0→K-π+e+e-)=(4.0±0.5±0.2±0.1)×10-6, where the first uncertainty is statistical, the second systematic, and the third due to the uncertainty in the branching fraction of the decay D0→K-π+π+π- used as a normalization mode. The significance of the observation corresponds to 9.7 standard deviations including systematic uncertainties. This result is consistent with the recently reported D0→K-π+μ+μ- branching fraction, measured in the same invariant mass range, and with the value expected in the standard model. In a set of regions of m(e+e-), where long-distance effects are potentially small, we determine a 90% confidence level upper limit on the branching fraction B(D0→K-π+e+e-)<3.1×10-6.
Observation of the Decay D0 →K-π+e+e- / Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Brown, D. N.; Kolomensky, Yu. G.; Fritsch, M.; Koch, H.; Schroeder, T.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; So, R. Y.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Kozyrev, E. A.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Lankford, A. J.; Gary, J. W.; Long, O.; Eisner, A. M.; Lockman, W. S.; Panduro Vazquez, W.; Chao, D. S.; Cheng, C. H.; Echenard, B.; Flood, K. T.; Hitlin, D. G.; Kim, J.; Li, Y.; Miyashita, T. S.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F. C.; Röhrken, M.; Huard, Z.; Meadows, B. T.; Pushpawela, B. G.; Sokoloff, M. D.; Sun, L.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Santoro, V.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Martellotti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rotondo, M.; Zallo, A.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Lacker, H. M.; Bhuyan, B.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Prell, S.; Gritsan, A. V.; Arnaud, N.; Davier, M.; Le Diberder, F.; Lutz, A. M.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Coleman, J. P.; Gabathuler, E.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Cowan, G.; Banerjee, Sw.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Gradl, W.; Griessinger, K.; Hafner, A.; Schubert, K. R.; Barlow, R. J.; Lafferty, G. D.; Cenci, R.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Cowan, R.; Robertson, S. H.; Seddon, R. M.; Dey, B.; Neri, N.; Palombo, F.; Cheaib, R.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Summers, D. J.; Taras, P.; De Nardo, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Jessop, C. P.; Losecco, J. M.; Honscheid, K.; Kass, R.; Gaz, A.; Margoni, M.; Posocco, M.; Simi, G.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G. R.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Biasini, M.; Manoni, E.; Rossi, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Chrzaszcz, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Zani, L.; Smith, A. J. S.; Anulli, F.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Pilloni, A.; Piredda, G.; Bünger, C.; Dittrich, S.; Grünberg, O.; Heß, M.; Leddig, T.; Voß, C.; Waldi, R.; Adye, T.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Vasseur, G.; Aston, D.; Cartaro, C.; Convery, M. R.; Dorfan, J.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Field, R. C.; Fulsom, B. G.; Graham, M. T.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kim, P.; Leith, D. W. G. S.; Luitz, S.; Macfarlane, D. B.; Muller, D. R.; Neal, H.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Sullivan, M. K.; Va'Vra, J.; Wisniewski, W. J.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Randle-Conde, A.; Sekula, S. J.; Ahmed, H.; Bellis, M.; Burchat, P. R.; Puccio, E. M. T.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D. R.; Soffer, A.; Spanier, S. M.; Ritchie, J. L.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; De Mori, F.; Filippi, A.; Gamba, D.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Beaulieu, A.; Bernlochner, F. U.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lueck, T.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Tasneem, N.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Prepost, R.; Wu, S. L.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - 122:8(2019), p. 081802. [10.1103/PhysRevLett.122.081802]
Observation of the Decay D0 →K-π+e+e-
Lees, J. P.;Poireau, V.;Tisserand, V.;Grauges, E.;Palano, A.;Eigen, G.;Brown, D. N.;Kolomensky, Yu. G.;Fritsch, M.;Koch, H.;Schroeder, T.;Hearty, C.;Mattison, T. S.;McKenna, J. A.;So, R. Y.;Blinov, V. E.;Buzykaev, A. R.;Druzhinin, V. P.;Golubev, V. B.;Kozyrev, E. A.;Kravchenko, E. A.;Onuchin, A. P.;Serednyakov, S. I.;Skovpen, Yu. I.;Solodov, E. P.;Todyshev, K. Yu.;Lankford, A. J.;Gary, J. W.;Long, O.;Eisner, A. M.;Lockman, W. S.;Panduro Vazquez, W.;Chao, D. S.;Cheng, C. H.;Echenard, B.;Flood, K. T.;Hitlin, D. G.;Kim, J.;Li, Y.;Miyashita, T. S.;Ongmongkolkul, P.;Porter, F. C.;Röhrken, M.;Huard, Z.;Meadows, B. T.;Pushpawela, B. G.;Sokoloff, M. D.;Sun, L.;Smith, J. G.;Wagner, S. R.;Bernard, D.;Verderi, M.;Bettoni, D.;Bozzi, C.;Calabrese, R.;Cibinetto, G.;Fioravanti, E.;Garzia, I.;Luppi, E.;Santoro, V.;Calcaterra, A.;De Sangro, R.;Finocchiaro, G.;Martellotti, S.;Patteri, P.;Peruzzi, I. M.;Piccolo, M.;Rotondo, M.;Zallo, A.;Passaggio, S.;Patrignani, C.;Lacker, H. M.;Bhuyan, B.;Mallik, U.;Chen, C.;Cochran, J.;Prell, S.;Gritsan, A. V.;Arnaud, N.;Davier, M.;Le Diberder, F.;Lutz, A. M.;Wormser, G.;Lange, D. J.;Wright, D. M.;Coleman, J. P.;Gabathuler, E.;Hutchcroft, D. E.;Payne, D. J.;Touramanis, C.;Bevan, A. J.;Di Lodovico, F.;Sacco, R.;Cowan, G.;Banerjee, Sw.;Brown, D. N.;Davis, C. L.;Denig, A. G.;Gradl, W.;Griessinger, K.;Hafner, A.;Schubert, K. R.;Barlow, R. J.;Lafferty, G. D.;Cenci, R.;Jawahery, A.;Roberts, D. A.;Cowan, R.;Robertson, S. H.;Seddon, R. M.;Dey, B.;Neri, N.;Palombo, F.;Cheaib, R.;Cremaldi, L.;Godang, R.;Summers, D. J.;Taras, P.;De Nardo, G.;Sciacca, C.;Raven, G.;Jessop, C. P.;Losecco, J. M.;Honscheid, K.;Kass, R.;Gaz, A.;Margoni, M.;Posocco, M.;Simi, G.;Simonetto, F.;Stroili, R.;Akar, S.;Ben-Haim, E.;Bomben, M.;Bonneaud, G. R.;Calderini, G.;Chauveau, J.;Marchiori, G.;Ocariz, J.;Biasini, M.;Manoni, E.;Rossi, A.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Carpinelli, M.;Casarosa, G.;Chrzaszcz, M.;Forti, F.;Giorgi, M. A.;Lusiani, A.;Oberhof, B.;Paoloni, E.;Rama, M.;Rizzo, G.;Walsh, J. J.;Zani, L.;Smith, A. J. S.;Anulli, F.;Faccini, R.;Ferrarotto, F.;Ferroni, F.;Pilloni, A.;Piredda, G.;Bünger, C.;Dittrich, S.;Grünberg, O.;Heß, M.;Leddig, T.;Voß, C.;Waldi, R.;Adye, T.;Wilson, F. F.;Emery, S.;Vasseur, G.;Aston, D.;Cartaro, C.;Convery, M. R.;Dorfan, J.;Dunwoodie, W.;Ebert, M.;Field, R. C.;Fulsom, B. G.;Graham, M. T.;Hast, C.;Innes, W. R.;Kim, P.;Leith, D. W. G. S.;Luitz, S.;Macfarlane, D. B.;Muller, D. R.;Neal, H.;Ratcliff, B. N.;Roodman, A.;Sullivan, M. K.;Va'Vra, J.;Wisniewski, W. J.;Purohit, M. V.;Wilson, J. R.;Randle-Conde, A.;Sekula, S. J.;Ahmed, H.;Bellis, M.;Burchat, P. R.;Puccio, E. M. T.;Alam, M. S.;Ernst, J. A.;Gorodeisky, R.;Guttman, N.;Peimer, D. R.;Soffer, A.;Spanier, S. M.;Ritchie, J. L.;Schwitters, R. F.;Izen, J. M.;Lou, X. C.;Bianchi, F.;De Mori, F.;Filippi, A.;Gamba, D.;Lanceri, L.;Vitale, L.;Martinez-Vidal, F.;Oyanguren, A.;Albert, J.;Beaulieu, A.;Bernlochner, F. U.;King, G. J.;Kowalewski, R.;Lueck, T.;Nugent, I. M.;Roney, J. M.;Sobie, R. J.;Tasneem, N.;Gershon, T. J.;Harrison, P. F.;Latham, T. E.;Prepost, R.;Wu, S. L.
2019
Abstract
We report the observation of the rare charm decay D0→K-π+e+e-, based on 468 fb-1 of e+e- annihilation data collected at or close to the center-of-mass energy of the (4S) resonance with the BABAR detector at the SLAC National Accelerator Laboratory. We find the branching fraction in the invariant mass range 0.675<0.875 GeV/c2 of the electron-positron pair to be B(D0→K-π+e+e-)=(4.0±0.5±0.2±0.1)×10-6, where the first uncertainty is statistical, the second systematic, and the third due to the uncertainty in the branching fraction of the decay D0→K-π+π+π- used as a normalization mode. The significance of the observation corresponds to 9.7 standard deviations including systematic uncertainties. This result is consistent with the recently reported D0→K-π+μ+μ- branching fraction, measured in the same invariant mass range, and with the value expected in the standard model. In a set of regions of m(e+e-), where long-distance effects are potentially small, we determine a 90% confidence level upper limit on the branching fraction B(D0→K-π+e+e-)<3.1×10-6.
01 Pubblicazione su rivista::01a Articolo in rivista
Observation of the Decay D0 →K-π+e+e- / Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Brown, D. N.; Kolomensky, Yu. G.; Fritsch, M.; Koch, H.; Schroeder, T.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; So, R. Y.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Kozyrev, E. A.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Lankford, A. J.; Gary, J. W.; Long, O.; Eisner, A. M.; Lockman, W. S.; Panduro Vazquez, W.; Chao, D. S.; Cheng, C. H.; Echenard, B.; Flood, K. T.; Hitlin, D. G.; Kim, J.; Li, Y.; Miyashita, T. S.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F. C.; Röhrken, M.; Huard, Z.; Meadows, B. T.; Pushpawela, B. G.; Sokoloff, M. D.; Sun, L.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Santoro, V.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Martellotti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rotondo, M.; Zallo, A.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Lacker, H. M.; Bhuyan, B.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Prell, S.; Gritsan, A. V.; Arnaud, N.; Davier, M.; Le Diberder, F.; Lutz, A. M.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Coleman, J. P.; Gabathuler, E.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Cowan, G.; Banerjee, Sw.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Gradl, W.; Griessinger, K.; Hafner, A.; Schubert, K. R.; Barlow, R. J.; Lafferty, G. D.; Cenci, R.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Cowan, R.; Robertson, S. H.; Seddon, R. M.; Dey, B.; Neri, N.; Palombo, F.; Cheaib, R.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Summers, D. J.; Taras, P.; De Nardo, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Jessop, C. P.; Losecco, J. M.; Honscheid, K.; Kass, R.; Gaz, A.; Margoni, M.; Posocco, M.; Simi, G.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G. R.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Biasini, M.; Manoni, E.; Rossi, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Chrzaszcz, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Zani, L.; Smith, A. J. S.; Anulli, F.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Pilloni, A.; Piredda, G.; Bünger, C.; Dittrich, S.; Grünberg, O.; Heß, M.; Leddig, T.; Voß, C.; Waldi, R.; Adye, T.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Vasseur, G.; Aston, D.; Cartaro, C.; Convery, M. R.; Dorfan, J.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Field, R. C.; Fulsom, B. G.; Graham, M. T.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kim, P.; Leith, D. W. G. S.; Luitz, S.; Macfarlane, D. B.; Muller, D. R.; Neal, H.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Sullivan, M. K.; Va'Vra, J.; Wisniewski, W. J.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Randle-Conde, A.; Sekula, S. J.; Ahmed, H.; Bellis, M.; Burchat, P. R.; Puccio, E. M. T.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D. R.; Soffer, A.; Spanier, S. M.; Ritchie, J. L.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; De Mori, F.; Filippi, A.; Gamba, D.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Beaulieu, A.; Bernlochner, F. U.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lueck, T.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Tasneem, N.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Prepost, R.; Wu, S. L.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - 122:8(2019), p. 081802. [10.1103/PhysRevLett.122.081802]
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
